•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Highly sensitive seesaw capacitive pressure sensor based on SOI wafer

نویسنده:
Yang, C.C.
,
Zhao, Qiming
,
Gao, C.C.
,
Liu, G.D.
,
Zhang, Y.X.
,
Cui, W.P.
,
Hao, Y.L.
ناشر:
IET
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1049/el.2013.4170
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1125578
کلیدواژه(گان): capacitive sensors,deformation,diaphragms,elemental semiconductors,microsensors,pressure sensors,silicon,silicon-on-insulator,MEMS,Si,diaphragm,highly sensitive seesaw capacitive pressure sensor,mechanical deformation,microelectromechanical system,silicon on insulator wafer
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Highly sensitive seesaw capacitive pressure sensor based on SOI wafer

Show full item record

contributor authorYang, C.C.
contributor authorZhao, Qiming
contributor authorGao, C.C.
contributor authorLiu, G.D.
contributor authorZhang, Y.X.
contributor authorCui, W.P.
contributor authorHao, Y.L.
date accessioned2020-03-12T23:51:02Z
date available2020-03-12T23:51:02Z
date issued2014
identifier issn0013-5194
identifier other6759700.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1125578
formatgeneral
languageEnglish
publisherIET
titleHighly sensitive seesaw capacitive pressure sensor based on SOI wafer
typeJournal Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8305249
subject keywordscapacitive sensors
subject keywordsdeformation
subject keywordsdiaphragms
subject keywordselemental semiconductors
subject keywordsmicrosensors
subject keywordspressure sensors
subject keywordssilicon
subject keywordssilicon-on-insulator
subject keywordsMEMS
subject keywordsSi
subject keywordsdiaphragm
subject keywordshighly sensitive seesaw capacitive pressure sensor
subject keywordsmechanical deformation
subject keywordsmicroelectromechanical system
subject keywordssilicon on insulator wafer
identifier doi10.1049/el.2013.4170
journal titleElectronics Letters
journal volume50
journal issue5
filesize477714
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace