•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Development of exposed die large body to die size ratio wafer level package technology

نویسنده:
Osenbach, J. , Emerich, S. , Golick, L. , Cate, S. , Chan, M. , Yoon, S.W. , Lin, Y.J. , Wong, K.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/PVSC.2014.6925645
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1115220
کلیدواژه(گان): aluminium alloys,metallisation,numerical analysis,solar cells,voids (solid),2D numerical device simulations,60-cell-based module,aluminium-alloyed local contacts,firing process,formation mechanism,industrial PERC cells,industrial firing process,lateral diffusion,local contacts,local printing,low temperature firing,two-step metallization,voids,voltage 666 mV,Firing,Metallization,Numerical models,Passivation,Photovoltaic cells,Printing,Silicon,PERC cell,metallization,sc
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Development of exposed die large body to die size ratio wafer level package technology

Show full item record

date accessioned2020-03-12T23:32:16Z
date available2020-03-12T23:32:16Z
date issued2014
identifier other6897403.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1115220
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleDevelopment of exposed die large body to die size ratio wafer level package technology
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8284635
subject keywordsaluminium alloys
subject keywordsmetallisation
subject keywordsnumerical analysis
subject keywordssolar cells
subject keywordsvoids (solid)
subject keywords2D numerical device simulations
subject keywords60-cell-based module
subject keywordsaluminium-alloyed local contacts
subject keywordsfiring process
subject keywordsformation mechanism
subject keywordsindustrial PERC cells
subject keywordsindustrial firing process
subject keywordslateral diffusion
subject keywordslocal contacts
subject keywordslocal printing
subject keywordslow temperature firing
subject keywordstwo-step metallization
subject keywordsvoids
subject keywordsvoltage 666 mV
subject keywordsFiring
subject keywordsMetallization
subject keywordsNumerical models
subject keywordsPassivation
subject keywordsPhotovoltaic cells
subject keywordsPrinting
subject keywordsSilicon
subject keywordsPERC cell
subject keywordsmetallization
subject keywordssc
identifier doi10.1109/PVSC.2014.6925645
journal titlelectronic Components and Technology Conference (ECTC), 2014 IEEE 64th
filesize1879181
citations0
contributor rawauthorOsenbach, J. , Emerich, S. , Golick, L. , Cate, S. , Chan, M. , Yoon, S.W. , Lin, Y.J. , Wong, K.
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace