•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Novel slurry injection system for improved slurry flow, enhanced material removal and reduced defects in CMP

نویسنده:
Yun Zhuang
,
Sampurno, Y.
,
Borucki, L.
,
Philipossian, A.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/ECTC.2014.6897389
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1089341
کلیدواژه(گان): microassembling,n three-dimensional integrated circuits,n 3D assembly technology,n 3D compliant chip assembly,n 3D die stacking challenges,n die-to-die assembly,n integrated assembly,n size 300 mm,n wafer-to-wafer assembly,n Assembly,n Bonding,n Flip-chip devices,n Resistance,n Semiconductor device measurement,n Three-dimensional displays,n Through-silicon vias
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Novel slurry injection system for improved slurry flow, enhanced material removal and reduced defects in CMP

Show full item record

contributor authorYun Zhuang
contributor authorSampurno, Y.
contributor authorBorucki, L.
contributor authorPhilipossian, A.
date accessioned2020-03-12T22:37:54Z
date available2020-03-12T22:37:54Z
date issued2014
identifier other7017242.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1089341
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleNovel slurry injection system for improved slurry flow, enhanced material removal and reduced defects in CMP
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8227539
subject keywordsmicroassembling
subject keywordsn three-dimensional integrated circuits
subject keywordsn 3D assembly technology
subject keywordsn 3D compliant chip assembly
subject keywordsn 3D die stacking challenges
subject keywordsn die-to-die assembly
subject keywordsn integrated assembly
subject keywordsn size 300 mm
subject keywordsn wafer-to-wafer assembly
subject keywordsn Assembly
subject keywordsn Bonding
subject keywordsn Flip-chip devices
subject keywordsn Resistance
subject keywordsn Semiconductor device measurement
subject keywordsn Three-dimensional displays
subject keywordsn Through-silicon vias
identifier doi10.1109/ECTC.2014.6897389
journal titlelanarization/CMP Technology (ICPT), 2014 International Conference on
filesize634488
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace