•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Technological dynamics: An empirical study in mobile telecommunications

نویسنده:
Mei, Hsiao-Chen , Lo, Shihmin , Sher, Peter J.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/NEWCAS.2014.6933985
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1034166
کلیدواژه(گان): delays,fault tolerance,integrated circuit manufacture,network routing,network-on-chip,three-dimensional integrated circuits,3D manufacture variability,3D network-on-chip,TSV propagation delays,adaptive routing,asynchronous communication interfaces,delay distribution,open defective TSV,partially connected 3D NoC,resistive defective TSV,serial communication,through silicon vias,Clocks,Delays,Elevators,Routing,Telecommunication traffic,Three-dimensional displays,Through-silic
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Technological dynamics: An empirical study in mobile telecommunications

Show full item record

contributor authorMei, Hsiao-Chen , Lo, Shihmin , Sher, Peter J.
date accessioned2020-03-12T21:01:16Z
date available2020-03-12T21:01:16Z
date issued2014
identifier other6921054.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1034166
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleTechnological dynamics: An empirical study in mobile telecommunications
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8160010
subject keywordsdelays
subject keywordsfault tolerance
subject keywordsintegrated circuit manufacture
subject keywordsnetwork routing
subject keywordsnetwork-on-chip
subject keywordsthree-dimensional integrated circuits
subject keywords3D manufacture variability
subject keywords3D network-on-chip
subject keywordsTSV propagation delays
subject keywordsadaptive routing
subject keywordsasynchronous communication interfaces
subject keywordsdelay distribution
subject keywordsopen defective TSV
subject keywordspartially connected 3D NoC
subject keywordsresistive defective TSV
subject keywordsserial communication
subject keywordsthrough silicon vias
subject keywordsClocks
subject keywordsDelays
subject keywordsElevators
subject keywordsRouting
subject keywordsTelecommunication traffic
subject keywordsThree-dimensional displays
subject keywordsThrough-silic
identifier doi10.1109/NEWCAS.2014.6933985
journal titleanagement of Engineering & Technology (PICMET), 2014 Portland International Conference on
filesize341550
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace