•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Study and analysis of Social network Aggregator

نویسنده:
Virmani, C. , Pillai, A. , Juneja, D.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/IIT.2014.6940022
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/984794
کلیدواژه(گان): doping profiles,electrostatics,ion implantation,Axcelis HE3,CIS manufacturers,IC manufacturers,Purion XE high energy ion implanter,angle control,batch implanters,box-like dopant profile,cone angle effect,damage characteristics,damage engineering,damage reduction,dose stability,electrostatic scanning,paradigm XE systems,serial high energy ion implanters,system mechanical throughput limit utilization,tool architecture,Current measurement,Electrostatics,Implants,Ion beams,St
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Study and analysis of Social network Aggregator

Show full item record

contributor authorVirmani, C. , Pillai, A. , Juneja, D.
date accessioned2020-03-12T19:38:49Z
date available2020-03-12T19:38:49Z
date issued2014
identifier other6798314.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/984794
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleStudy and analysis of Social network Aggregator
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8100305
subject keywordsdoping profiles
subject keywordselectrostatics
subject keywordsion implantation
subject keywordsAxcelis HE3
subject keywordsCIS manufacturers
subject keywordsIC manufacturers
subject keywordsPurion XE high energy ion implanter
subject keywordsangle control
subject keywordsbatch implanters
subject keywordsbox-like dopant profile
subject keywordscone angle effect
subject keywordsdamage characteristics
subject keywordsdamage engineering
subject keywordsdamage reduction
subject keywordsdose stability
subject keywordselectrostatic scanning
subject keywordsparadigm XE systems
subject keywordsserial high energy ion implanters
subject keywordssystem mechanical throughput limit utilization
subject keywordstool architecture
subject keywordsCurrent measurement
subject keywordsElectrostatics
subject keywordsImplants
subject keywordsIon beams
subject keywordsSt
identifier doi10.1109/IIT.2014.6940022
journal titleptimization, Reliabilty, and Information Technology (ICROIT), 2014 International Conference on
filesize562610
citations1
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace