•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Table of contents

سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/PVSC.2014.6925078
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/980109
کلیدواژه(گان): busbars,elemental semiconductors,finite element analysis,silicon,solar cells,Si,computer finite element analysis,crystalline silicon wafer solar cells,current transport efficiency,differential electroluminescence imaging,local light-induced current,metal busbars,series resistance,Electrical resistance measurement,Fingers,Histograms,Imaging,Photovoltaic cells,Resistance,Silicon,amorphous materials,charge carrier lifetime,photovoltaic cells,silicon
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Table of contents

Show full item record

date accessioned2020-03-12T19:30:37Z
date available2020-03-12T19:30:37Z
date issued2014
identifier other6740362.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/980109
formatgeneral
languageEnglish
titleTable of contents
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8094335
subject keywordsbusbars
subject keywordselemental semiconductors
subject keywordsfinite element analysis
subject keywordssilicon
subject keywordssolar cells
subject keywordsSi
subject keywordscomputer finite element analysis
subject keywordscrystalline silicon wafer solar cells
subject keywordscurrent transport efficiency
subject keywordsdifferential electroluminescence imaging
subject keywordslocal light-induced current
subject keywordsmetal busbars
subject keywordsseries resistance
subject keywordsElectrical resistance measurement
subject keywordsFingers
subject keywordsHistograms
subject keywordsImaging
subject keywordsPhotovoltaic cells
subject keywordsResistance
subject keywordsSilicon
subject keywordsamorphous materials
subject keywordscharge carrier lifetime
subject keywordsphotovoltaic cells
subject keywordssilicon
identifier doi10.1109/PVSC.2014.6925078
journal titlelectronics, Computing and Communication Technologies (IEEE CONECCT), 2014 IEEE International Confere
filesize440096
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace