•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Thermal and Electrical Properties of BCB-Liner Through-Silicon Vias

نویسنده:
Cui Huang
,
Liyang Pan
,
Ran Liu
,
Zheyao Wang
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/TCPMT.2014.2363659
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1147902
کلیدواژه(گان): capacitance measurement,electric current measurement,electric properties,integrated circuit testing,leakage currents,organic compounds,thermal expansion,thermal stability,three-dimensional integrated circuits,voltage measurement,BCB-liner TSV,BCB-liner through-silicon vias,C-V characteristics,I-V characteristics,TSV capacitances,benzocyclobutene,electrical properties,leakage current,room temperature,temperature -65 degC to 150 degC,thermal cycling,thermal expansion stresses
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Thermal and Electrical Properties of BCB-Liner Through-Silicon Vias

Show full item record

contributor authorCui Huang
contributor authorLiyang Pan
contributor authorRan Liu
contributor authorZheyao Wang
date accessioned2020-03-13T00:28:10Z
date available2020-03-13T00:28:10Z
date issued2014
identifier issn2156-3950
identifier other6945811.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1147902
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleThermal and Electrical Properties of BCB-Liner Through-Silicon Vias
typeJournal Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8330931
subject keywordscapacitance measurement
subject keywordselectric current measurement
subject keywordselectric properties
subject keywordsintegrated circuit testing
subject keywordsleakage currents
subject keywordsorganic compounds
subject keywordsthermal expansion
subject keywordsthermal stability
subject keywordsthree-dimensional integrated circuits
subject keywordsvoltage measurement
subject keywordsBCB-liner TSV
subject keywordsBCB-liner through-silicon vias
subject keywordsC-V characteristics
subject keywordsI-V characteristics
subject keywordsTSV capacitances
subject keywordsbenzocyclobutene
subject keywordselectrical properties
subject keywordsleakage current
subject keywordsroom temperature
subject keywordstemperature -65 degC to 150 degC
subject keywordsthermal cycling
subject keywordsthermal expansion stresses
identifier doi10.1109/TCPMT.2014.2363659
journal titleComponents, Packaging and Manufacturing Technology, IEEE Transactions on
journal volume4
journal issue12
filesize2012297
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace