•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Characterization of Bi–Ag–X Solder for High Temperature SiC Die Attach

نویسنده:
Zhenzhen Shen
,
Kun Fang
,
Johnson, R. Wayne
,
Hamilton, Michael C.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/TCPMT.2014.2345500
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1143450
کلیدواژه(گان): ageing,bismuth alloys,melting point,microassembling,nickel alloys,power semiconductor devices,shear strength,silicon compounds,silver alloys,solders,thermal management (packaging),wide band gap semiconductors,Bi-Ag-X solder paste,CuMo surfaces,DBC,NiBi<,sub>,3<,/sub>,SiC,SiC power devices,aging,die shear strength,direct bond copper,high temperature SiC die attach,high-temperature storage,hybrid electric vehicle,intermetallic formation,lead-free solders,melting
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Characterization of Bi&amp;#x2013;Ag&amp;#x2013;X Solder for High Temperature SiC Die Attach

Show full item record

contributor authorZhenzhen Shen
contributor authorKun Fang
contributor authorJohnson, R. Wayne
contributor authorHamilton, Michael C.
date accessioned2020-03-13T00:21:02Z
date available2020-03-13T00:21:02Z
date issued2014
identifier issn2156-3950
identifier other6891308.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1143450
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleCharacterization of Bi&#x2013;Ag&#x2013;X Solder for High Temperature SiC Die Attach
typeJournal Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8326069
subject keywordsageing
subject keywordsbismuth alloys
subject keywordsmelting point
subject keywordsmicroassembling
subject keywordsnickel alloys
subject keywordspower semiconductor devices
subject keywordsshear strength
subject keywordssilicon compounds
subject keywordssilver alloys
subject keywordssolders
subject keywordsthermal management (packaging)
subject keywordswide band gap semiconductors
subject keywordsBi-Ag-X solder paste
subject keywordsCuMo surfaces
subject keywordsDBC
subject keywordsNiBi<
subject keywordssub>
subject keywords3<
subject keywords/sub>
subject keywordsSiC
subject keywordsSiC power devices
subject keywordsaging
subject keywordsdie shear strength
subject keywordsdirect bond copper
subject keywordshigh temperature SiC die attach
subject keywordshigh-temperature storage
subject keywordshybrid electric vehicle
subject keywordsintermetallic formation
subject keywordslead-free solders
subject keywordsmelting
identifier doi10.1109/TCPMT.2014.2345500
journal titleComponents, Packaging and Manufacturing Technology, IEEE Transactions on
journal volume4
journal issue11
filesize5414559
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace