•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Conference flyer

ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/EMCEurope.2014.6930992
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1036872
کلیدواژه(گان): analogue-digital conversion,benchmark testing,electromagnetic compatibility,immunity testing,integrated circuit measurement,integrated circuit testing,radiofrequency integrated circuits,ADC,DPI method,RFIP method,VNA,analog to digital converter,direct power injection method,immunity measurement technique,immunity parameters calculation model,integrated circuits immunity,resistive RF injection probe test method,vector network analyzer,virtual test bench,Immunity testing,Impeda
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Conference flyer

Show full item record

date accessioned2020-03-12T21:05:50Z
date available2020-03-12T21:05:50Z
date issued2014
identifier other6924502.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1036872
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleConference flyer
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8163108
subject keywordsanalogue-digital conversion
subject keywordsbenchmark testing
subject keywordselectromagnetic compatibility
subject keywordsimmunity testing
subject keywordsintegrated circuit measurement
subject keywordsintegrated circuit testing
subject keywordsradiofrequency integrated circuits
subject keywordsADC
subject keywordsDPI method
subject keywordsRFIP method
subject keywordsVNA
subject keywordsanalog to digital converter
subject keywordsdirect power injection method
subject keywordsimmunity measurement technique
subject keywordsimmunity parameters calculation model
subject keywordsintegrated circuits immunity
subject keywordsresistive RF injection probe test method
subject keywordsvector network analyzer
subject keywordsvirtual test bench
subject keywordsImmunity testing
subject keywordsImpeda
identifier doi10.1109/EMCEurope.2014.6930992
journal titleptical MEMS and Nanophotonics (OMN), 2014 International Conference on
filesize1185739
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace