Search

Persian
- Persian
- English
ورود

دانشگاه فردوسی مشهد
|
مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی

- Persian
- English

خانه
انواع منابع
راهنمای استفاده

کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
Search

کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
Search

همه
عنوان
نویسنده
سال
ناشر
موضوع
عنوان ناشر
ISSN
شناسه الکترونیک
شابک

جستجوی پیشرفته

JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Search

Show Advanced Filters Hide Advanced Filters

Filters

Use filters to refine the search results.

نمایش تعداد 1-4 از 4

Relevance
Title Asc
Title Desc
سال صعودی
سال نزولی

5
10
20
40
60
80
100

CSV
RIS

Sort Options:
Relevance
Title Asc
Title Desc
Issue Date Asc
Issue Date Desc
Results Per Page:
5
10
20
40
60
80
100

Investigation of Backgate-Bias Dependence of Threshold-Voltage Sensitivity to Process and Temperature Variations for Ultra-Thin-Body Hetero-Channel MOSFETs

نوع: Journal Paper

نویسنده : Chang-Hung Yu; Pin Su

ناشر: IEEE

سال: 2014

Built-in Effective Body-Bias Effect in Ultra-Thin-Body Hetero-Channel III—V-on-Insulator n-MOSFETs

نوع: Journal Paper

نویسنده : Chang-Hung Yu; Pin Su

ناشر: IEEE

سال: 2014

Investigation of Multi- $V_{\mathrm {th}}$ Efficiency for Trigate GeOI p-MOSFETs Using Analytical Solution of 3-D Poisson’s Equation

نوع: Journal Paper

نویسنده : Shu-Hua Wu; Chang-Hung Yu; Chun-Hsien Chiang; Pin Su

سال: 2015

Impact of Quantum Confinement on Subthreshold Swing and Electrostatic Integrity of Ultra-Thin-Body GeOI and InGaAs-OI n-MOSFETs

نوع: Journal Paper

نویسنده : Chang-Hung Yu; Yu-Sheng Wu; Vita Pi-Ho Hu; Pin Su

سال: 2012

نویسنده

Chang-Hung Yu (4)

Pin Su (4)

Chun-Hsien Chiang (1)

Shu-Hua Wu (1)

Vita Pi-Ho Hu (1)

Yu-Sheng Wu (1)

ناشر

IEEE (2)

سال

2015 (1)

2014 (2)

2012 (1)

کلیدواژه

MOSFET (2)

Backgate bias (1)

backgate-bias dependence (1)

conduction band (1)

conduction bands (1)

drain induced barrier lowering (1)

drain-induced-barrier-lowering (DIBL) (1)

effective body-bias effect (1)

electron affinity (1)

electrostatic integrity (1)

نوع

Journal Paper (4)

زبان

English (4)

نوع محتوا

Fulltext (2)

Metadata Only (2)

عنوان ناشر

Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on (1)

Electron Device Letters, IEEE (1)

IEEE Transactions on Electron Devices (1)

IEEE Transactions on Nanotechnology (1)

درباره ما

نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش

DSpace software copyright © 2019-2022 DuraSpace