•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Improving CMOS open defect coverage using hazard activated tests

نویسنده:
Chao Han , Singh, A.D.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/AUPEC.2014.6966600
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/989675
کلیدواژه(گان): Clocks,Current transformers,Educational institutions,Modulation,Resonant frequency,Transformer cores,Windings
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Improving CMOS open defect coverage using hazard activated tests

Show full item record

contributor authorChao Han , Singh, A.D.
date accessioned2020-03-12T19:46:35Z
date available2020-03-12T19:46:35Z
date issued2014
identifier other6818740.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/989675
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleImproving CMOS open defect coverage using hazard activated tests
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8105934
subject keywordsClocks
subject keywordsCurrent transformers
subject keywordsEducational institutions
subject keywordsModulation
subject keywordsResonant frequency
subject keywordsTransformer cores
subject keywordsWindings
identifier doi10.1109/AUPEC.2014.6966600
journal titleLSI Test Symposium (VTS), 2014 IEEE 32nd
filesize264741
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace