•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

On the MOSFET Threshold Voltage Extraction by Transconductance and Transconductance-to-Current Ratio Change Methods: Part I—Effect of Gate-Voltage-Dependent Mobility

نویسنده:
Rudenko, T.
,
Kilchytska, V.
,
Arshad, M.K.M.
,
Raskin, J.-P.
,
Nazarov, A.
,
Flandre, D.
ناشر:
IEEE
سال
: 2011
شناسه الکترونیک: 10.1109/ted.2011.2168226
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/558587
کالکشن :
  • Latin Articles
  • دانلود: (561.4Kb)
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    On the MOSFET Threshold Voltage Extraction by Transconductance and Transconductance-to-Current Ratio Change Methods: Part I—Effect of Gate-Voltage-Dependent Mobility

Show full item record

contributor authorRudenko, T.
contributor authorKilchytska, V.
contributor authorArshad, M.K.M.
contributor authorRaskin, J.-P.
contributor authorNazarov, A.
contributor authorFlandre, D.
date accessioned2020-03-11T14:20:38Z
date available2020-03-11T14:20:38Z
date issued2011
identifier otherIwcMGfe53YX8E5KKEENLHOPMfBEIyCe3eiROIx8YCCzeAqO_Er.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/558587
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleOn the MOSFET Threshold Voltage Extraction by Transconductance and Transconductance-to-Current Ratio Change Methods: Part I—Effect of Gate-Voltage-Dependent Mobility
typeJournal Paper
contenttypeFulltext
contenttypeFulltext
identifier padid4353415
identifier doi10.1109/ted.2011.2168226
journal titleIEEE Transactions on Electron Devices
coverageAcademic
pages4172-4179
journal volume58
journal issue12
filesize574766
citations6
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace