•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Enhancement of radio frequency device's contact test using a novel method

نویسنده:
Cheng-Nan Hu
,
Wen-Ju Chen
,
Hsuan-Chung Ko
ناشر:
IET
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1049/iet-smt.2013.0071
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1137825
کلیدواژه(گان): automatic test equipment,equivalent circuits,integrated circuit modelling,integrated circuit testing,prototypes,radiofrequency integrated circuits,RF device modelling,automatic test equipment,electric contact verification,equivalent circuit,prototype design,radio frequency devices,radio frequency traces
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Enhancement of radio frequency device's contact test using a novel method

Show full item record

contributor authorCheng-Nan Hu
contributor authorWen-Ju Chen
contributor authorHsuan-Chung Ko
date accessioned2020-03-13T00:11:46Z
date available2020-03-13T00:11:46Z
date issued2014
identifier issn1751-8822
identifier other6847042.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1137825
formatgeneral
languageEnglish
publisherIET
titleEnhancement of radio frequency device's contact test using a novel method
typeJournal Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8319797
subject keywordsautomatic test equipment
subject keywordsequivalent circuits
subject keywordsintegrated circuit modelling
subject keywordsintegrated circuit testing
subject keywordsprototypes
subject keywordsradiofrequency integrated circuits
subject keywordsRF device modelling
subject keywordsautomatic test equipment
subject keywordselectric contact verification
subject keywordsequivalent circuit
subject keywordsprototype design
subject keywordsradio frequency devices
subject keywordsradio frequency traces
identifier doi10.1049/iet-smt.2013.0071
journal titleScience, Measurement & Technology, IET
journal volume8
journal issue4
filesize964011
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace