•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Fatigue life prediction for solder interconnects in IGBT modules by using the successive initiation method

نویسنده:
Ghodke, N. , Kumbhakarna, D. , Nakanekar, S. , Tonapi, S.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/ISSREW.2014.80
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1111877
کلیدواژه(گان): Cloud computing,Contracts,Law,Outsourcing,Risk management,Security,Cloud,Outsourcing,Risk Assessment,Risk Management,Security
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Fatigue life prediction for solder interconnects in IGBT modules by using the successive initiation method

Show full item record

date accessioned2020-03-12T23:26:44Z
date available2020-03-12T23:26:44Z
date issued2014
identifier other6892335.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1111877
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleFatigue life prediction for solder interconnects in IGBT modules by using the successive initiation method
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8280744
subject keywordsCloud computing
subject keywordsContracts
subject keywordsLaw
subject keywordsOutsourcing
subject keywordsRisk management
subject keywordsSecurity
subject keywordsCloud
subject keywordsOutsourcing
subject keywordsRisk Assessment
subject keywordsRisk Management
subject keywordsSecurity
identifier doi10.1109/ISSREW.2014.80
journal titlehermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITherm), 2014 IEEE Intersociety Confere
filesize567504
citations0
contributor rawauthorGhodke, N. , Kumbhakarna, D. , Nakanekar, S. , Tonapi, S.
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace