•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Preface to IClaNov 2014

ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/ISVLSI.2014.80
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1093475
کلیدواژه(گان): calibration,n cryptography,n integrated circuit manufacture,n integrated circuit noise,n integrated circuit reliability,n integrated circuit testing,n random number generation,n IC fabrication process,n cryptographic primitives harness randomness,n hardware security primitives,n on-chip calibration,n on-chip noise,n physical unclonable functions,n post-silicon validation,n reliability,n true random number generators,n Circuit faults,n Delays
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Preface to IClaNov 2014

Show full item record

date accessioned2020-03-12T22:45:25Z
date available2020-03-12T22:45:25Z
date issued2014
identifier other7022561.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1093475
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titlePreface to IClaNov 2014
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8232905
subject keywordscalibration
subject keywordsn cryptography
subject keywordsn integrated circuit manufacture
subject keywordsn integrated circuit noise
subject keywordsn integrated circuit reliability
subject keywordsn integrated circuit testing
subject keywordsn random number generation
subject keywordsn IC fabrication process
subject keywordsn cryptographic primitives harness randomness
subject keywordsn hardware security primitives
subject keywordsn on-chip calibration
subject keywordsn on-chip noise
subject keywordsn physical unclonable functions
subject keywordsn post-silicon validation
subject keywordsn reliability
subject keywordsn true random number generators
subject keywordsn Circuit faults
subject keywordsn Delays
identifier doi10.1109/ISVLSI.2014.80
journal titleata Mining Workshop (ICDMW), 2014 IEEE International Conference on
filesize130056
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace