•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Development and field testing of UAV-based sampling devices for obtaining volcanic products

نویسنده:
Yajima, R.
,
Nagatani, K.
,
Yoshida, K.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/IPFA.2014.6898140
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1089608
کلیدواژه(گان): MOSFET,n X-ray chemical analysis,n failure analysis,n molybdenum,n moulding,n semiconductor device reliability,n zinc,n EDX,n TIVA,n Zn-Mo,n failure analysis,n gate-source short,n molding compound,n nonpassivated MOSFET device,n particle defect,n Circuit faults,n Compounds,n Failure analysis,n Logic gates,n Optical imaging,n Zinc
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Development and field testing of UAV-based sampling devices for obtaining volcanic products

Show full item record

contributor authorYajima, R.
contributor authorNagatani, K.
contributor authorYoshida, K.
date accessioned2020-03-12T22:38:23Z
date available2020-03-12T22:38:23Z
date issued2014
identifier other7017680.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1089608
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleDevelopment and field testing of UAV-based sampling devices for obtaining volcanic products
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8227859
subject keywordsMOSFET
subject keywordsn X-ray chemical analysis
subject keywordsn failure analysis
subject keywordsn molybdenum
subject keywordsn moulding
subject keywordsn semiconductor device reliability
subject keywordsn zinc
subject keywordsn EDX
subject keywordsn TIVA
subject keywordsn Zn-Mo
subject keywordsn failure analysis
subject keywordsn gate-source short
subject keywordsn molding compound
subject keywordsn nonpassivated MOSFET device
subject keywordsn particle defect
subject keywordsn Circuit faults
subject keywordsn Compounds
subject keywordsn Failure analysis
subject keywordsn Logic gates
subject keywordsn Optical imaging
subject keywordsn Zinc
identifier doi10.1109/IPFA.2014.6898140
journal titleafety, Security, and Rescue Robotics (SSRR), 2014 IEEE International Symposium on
filesize1836873
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace