•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Finite-size and edge effects on the quantum capacitance of graphene nanoribbon field-effect transistors

نویسنده:
Kliros, George S.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/AERO.2014.6836167
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1065820
کلیدواژه(گان): entry, descent and landing (spacecraft),n failure analysis,n risk analysis,n NASA,n accountability,n near-miss events recognition,n organizational messages,n project signifIcance,n risk aversion,n visible failures,n warning signals,n NASA,n Schedules
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Finite-size and edge effects on the quantum capacitance of graphene nanoribbon field-effect transistors

Show full item record

contributor authorKliros, George S.
date accessioned2020-03-12T21:56:22Z
date available2020-03-12T21:56:22Z
date issued2014
identifier other6966391.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1065820
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleFinite-size and edge effects on the quantum capacitance of graphene nanoribbon field-effect transistors
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8199453
subject keywordsentry, descent and landing (spacecraft)
subject keywordsn failure analysis
subject keywordsn risk analysis
subject keywordsn NASA
subject keywordsn accountability
subject keywordsn near-miss events recognition
subject keywordsn organizational messages
subject keywordsn project signifIcance
subject keywordsn risk aversion
subject keywordsn visible failures
subject keywordsn warning signals
subject keywordsn NASA
subject keywordsn Schedules
identifier doi10.1109/AERO.2014.6836167
journal titleemiconductor Conference (CAS), 2014 International
filesize813626
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace