•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Structural Software-Based Self-Test of Network-on-Chip

نویسنده:
Dalirsani, A. , Imhof, M.E. , Wunderlich, H.-J.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/AUPEC.2014.6966614
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/989686
کلیدواژه(گان): Australia,Educational institutions,Industries,Power engineering,Power transformers,Production facilities,Testing,Design review,industry,manufacturers,purchasers,technical risk,transformers,utility
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Structural Software-Based Self-Test of Network-on-Chip

Show full item record

contributor authorDalirsani, A. , Imhof, M.E. , Wunderlich, H.-J.
date accessioned2020-03-12T19:46:36Z
date available2020-03-12T19:46:36Z
date issued2014
identifier other6818754.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/989686?locale-attribute=fa
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleStructural Software-Based Self-Test of Network-on-Chip
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8105948
subject keywordsAustralia
subject keywordsEducational institutions
subject keywordsIndustries
subject keywordsPower engineering
subject keywordsPower transformers
subject keywordsProduction facilities
subject keywordsTesting
subject keywordsDesign review
subject keywordsindustry
subject keywordsmanufacturers
subject keywordspurchasers
subject keywordstechnical risk
subject keywordstransformers
subject keywordsutility
identifier doi10.1109/AUPEC.2014.6966614
journal titleLSI Test Symposium (VTS), 2014 IEEE 32nd
filesize1158783
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace