•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

An accelerated method for characterization of bi-material interfaces in microelectronic packages under cyclic loading conditions

نویسنده:
Poshtan, E.A. , Rzepka, S. , Michel, B. , Silber, C. , Wunderle, B.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/ECOC.2014.6964016
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/988294
کلیدواژه(گان): Complexity theory,Decoding,Forward error correction,High definition video,Iterative decoding,Phase shift keying
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    An accelerated method for characterization of bi-material interfaces in microelectronic packages under cyclic loading conditions

Show full item record

date accessioned2020-03-12T19:44:33Z
date available2020-03-12T19:44:33Z
date issued2014
identifier other6813793.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/988294?locale-attribute=fa
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleAn accelerated method for characterization of bi-material interfaces in microelectronic packages under cyclic loading conditions
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8104426
subject keywordsComplexity theory
subject keywordsDecoding
subject keywordsForward error correction
subject keywordsHigh definition video
subject keywordsIterative decoding
subject keywordsPhase shift keying
identifier doi10.1109/ECOC.2014.6964016
journal titlehermal, mechanical and multi-physics simulation and experiments in microelectronics and microsystems
filesize1042449
citations0
contributor rawauthorPoshtan, E.A. , Rzepka, S. , Michel, B. , Silber, C. , Wunderle, B.
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace