•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Performance optimization of PVM based parallel applications using optimal number of slaves

نویسنده:
Sampath, S. , Nanjesh, B.R. , Sagar, B.B. , Subbaraya, C.K.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/SBMicro.2014.6940078
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/984838
کلیدواژه(گان): SRAM chips,interface states,stochastic processes,technology CAD (electronics),3D TCAD simulation,6T-SRAM cell read and write operation,RD model,bias temperature instability,device-level variability simulation,interface trap generation,pre-existing bulk trap charging,simple exponential impact assumption,small area device,stochastic BTl modeling,stochastic reaction diffusion model,threshold voltage generation,threshold voltage shift distribution,Computational modeling,Integrated
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Performance optimization of PVM based parallel applications using optimal number of slaves

Show full item record

date accessioned2020-03-12T19:38:54Z
date available2020-03-12T19:38:54Z
date issued2014
identifier other6798360.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/984838
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titlePerformance optimization of PVM based parallel applications using optimal number of slaves
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8100358
subject keywordsSRAM chips
subject keywordsinterface states
subject keywordsstochastic processes
subject keywordstechnology CAD (electronics)
subject keywords3D TCAD simulation
subject keywords6T-SRAM cell read and write operation
subject keywordsRD model
subject keywordsbias temperature instability
subject keywordsdevice-level variability simulation
subject keywordsinterface trap generation
subject keywordspre-existing bulk trap charging
subject keywordssimple exponential impact assumption
subject keywordssmall area device
subject keywordsstochastic BTl modeling
subject keywordsstochastic reaction diffusion model
subject keywordsthreshold voltage generation
subject keywordsthreshold voltage shift distribution
subject keywordsComputational modeling
subject keywordsIntegrated
identifier doi10.1109/SBMicro.2014.6940078
journal titleptimization, Reliabilty, and Information Technology (ICROIT), 2014 International Conference on
filesize2045375
citations0
contributor rawauthorSampath, S. , Nanjesh, B.R. , Sagar, B.B. , Subbaraya, C.K.
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace