•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

E<sup>2</sup>MD for reduction of motion artifacts from photoplethysmographic signals

نویسنده:
Raghuram, M. , Sivani, K. , Reddy, K.A.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/DFT.2014.6962090
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1112313
کلیدواژه(گان): fault diagnosis,logic testing,microprocessor chips,reduced instruction set computing,system-on-chip,PowerPC derived processor,SBST approach,decode units,functional test programs,in-field functional testing,industrial SoC device,instruction classification,instruction manipulation,pipelined RISC processors,signatures collection,stuck-at fault coverage,Encoding,Law,Reduced instruction set computing,Registers,Testing,Software-Based Self-Test programs,decode unit,fault grading
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    E&lt;sup&gt;2&lt;/sup&gt;MD for reduction of motion artifacts from photoplethysmographic signals

Show full item record

contributor authorRaghuram, M. , Sivani, K. , Reddy, K.A.
date accessioned2020-03-12T23:27:25Z
date available2020-03-12T23:27:25Z
date issued2014
identifier other6892793.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1112313?locale-attribute=fa
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleE<sup>2</sup>MD for reduction of motion artifacts from photoplethysmographic signals
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8281225
subject keywordsfault diagnosis
subject keywordslogic testing
subject keywordsmicroprocessor chips
subject keywordsreduced instruction set computing
subject keywordssystem-on-chip
subject keywordsPowerPC derived processor
subject keywordsSBST approach
subject keywordsdecode units
subject keywordsfunctional test programs
subject keywordsin-field functional testing
subject keywordsindustrial SoC device
subject keywordsinstruction classification
subject keywordsinstruction manipulation
subject keywordspipelined RISC processors
subject keywordssignatures collection
subject keywordsstuck-at fault coverage
subject keywordsEncoding
subject keywordsLaw
subject keywordsReduced instruction set computing
subject keywordsRegisters
subject keywordsTesting
subject keywordsSoftware-Based Self-Test programs
subject keywordsdecode unit
subject keywordsfault grading
identifier doi10.1109/DFT.2014.6962090
journal titlelectronics and Communication Systems (ICECS), 2014 International Conference on
filesize1633167
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace