•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Effect of material choice on spalling fracture parameters to exfoliate thin PV devices

نویسنده:
Sweet, C.A.
,
Simon, J.D.
,
Young, D.L.
,
Ptak, A.J.
,
Packard, C.E.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/IMCCC.2014.148
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1037237
کلیدواژه(گان): Analytical models,Bayes methods,Computer network reliability,Fault trees,Reliability,Safety,Uncertainty,Bayesian Network,Failure Mode and Effect Analysis (FMEA),Fault Tree Analysis (FTA),Reliability,Structure Matrix
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Effect of material choice on spalling fracture parameters to exfoliate thin PV devices

Show full item record

contributor authorSweet, C.A.
contributor authorSimon, J.D.
contributor authorYoung, D.L.
contributor authorPtak, A.J.
contributor authorPackard, C.E.
date accessioned2020-03-12T21:06:31Z
date available2020-03-12T21:06:31Z
date issued2014
identifier other6925127.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1037237
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleEffect of material choice on spalling fracture parameters to exfoliate thin PV devices
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8163524
subject keywordsAnalytical models
subject keywordsBayes methods
subject keywordsComputer network reliability
subject keywordsFault trees
subject keywordsReliability
subject keywordsSafety
subject keywordsUncertainty
subject keywordsBayesian Network
subject keywordsFailure Mode and Effect Analysis (FMEA)
subject keywordsFault Tree Analysis (FTA)
subject keywordsReliability
subject keywordsStructure Matrix
identifier doi10.1109/IMCCC.2014.148
journal titlehotovoltaic Specialist Conference (PVSC), 2014 IEEE 40th
filesize241110
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace