•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
Search 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Search
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Search
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Search

Show Advanced FiltersHide Advanced Filters

Filters

Use filters to refine the search results.

نمایش تعداد 1-5 از 5

    • Relevance
    • Title Asc
    • Title Desc
    • سال صعودی
    • سال نزولی
    • 5
    • 10
    • 20
    • 40
    • 60
    • 80
    • 100
  • خروجی
    • CSV
    • RIS
    • Sort Options:
    • Relevance
    • Title Asc
    • Title Desc
    • Issue Date Asc
    • Issue Date Desc
    • Results Per Page:
    • 5
    • 10
    • 20
    • 40
    • 60
    • 80
    • 100

    Characterization of Heavy-Ion-Induced Single-Event Effects in 65 nm Bulk CMOS ASIC Test Chips 

    نوع: Journal Paper
    نویسنده : Chia-Hsiang Chen; Knag, Phil; Zhengya Zhang
    ناشر: IEEE
    سال: 2014

    Investigation of Single Event Induced Soft Errors in Programmable Metallization Cell Memory 

    نوع: Journal Paper
    نویسنده : Mahalanabis, Debayan; Barnaby, H.J.; Kozicki, M.N.; Bharadwaj, Vineeth; Rajabi, Saba
    ناشر: IEEE
    سال: 2014

    Random-Walk Drift-Diffusion Charge-Collection Model For Reverse-Biased Junctions Embedded in Circuits 

    نوع: Journal Paper
    نویسنده : Glorieux, M.; Autran, J.L.; Munteanu, Daniela; Clerc, Sylvain; Gasiot, Gilles; Roche, Philippe
    ناشر: IEEE
    سال: 2014

    A CMOS Triple Inter-Locked Latch for SEU Insensitivity Design 

    نوع: Journal Paper
    نویسنده : Tianwen Li; Haigang Yang; Gang Cai; Tian Zhi; Yue Li
    ناشر: IEEE
    سال: 2014

    Upsets in Phase Change Memories Due to High-LET Heavy Ions Impinging at an Angle 

    نوع: Journal Paper
    نویسنده : Gerardin, Simone; Bagatin, Marta; Paccagnella, Alessandro; Visconti, Angelo; Bonanomi, M.; Beltrami, S.; Ferlet-Cavrois, Veronique
    ناشر: IEEE
    سال: 2014

    نویسنده

    ... View More

    ناشر

    سال

    کلیدواژه

    ... View More

    نوع

    زبان

    نوع محتوا

    عنوان ناشر

    • درباره ما
    نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
    DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace