•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Tethered Interference Cancellation: Military versus full-duplex applications and comparisons

نویسنده:
Polydoros, Andreas , Fitz, Michael , Enserink, Scott , Thatte, Gautam , Halford, Thomas
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/PLASMA.2014.7012752
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/996986
کلیدواژه(گان): atomic force microscopy,cooling,crystal microstructure,electron beam effects,evaporation,melting,numerical analysis,optical microscopy,surface topography,titanium alloys,atomic force microscopy,cooling rates,evaporated layers,heat erosion,low-energy high-current pulsed electron beam irradiation,melted layers,microstructure,numerical model,optical microscopy,spatio-temporal temperature fields,thermal effect parameters,titanium alloy structure,Cooling,Electron beams,Heating
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Tethered Interference Cancellation: Military versus full-duplex applications and comparisons

Show full item record

date accessioned2020-03-12T19:58:09Z
date available2020-03-12T19:58:09Z
date issued2014
identifier other6843217.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/996986?locale-attribute=fa
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleTethered Interference Cancellation: Military versus full-duplex applications and comparisons
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8116843
subject keywordsatomic force microscopy
subject keywordscooling
subject keywordscrystal microstructure
subject keywordselectron beam effects
subject keywordsevaporation
subject keywordsmelting
subject keywordsnumerical analysis
subject keywordsoptical microscopy
subject keywordssurface topography
subject keywordstitanium alloys
subject keywordsatomic force microscopy
subject keywordscooling rates
subject keywordsevaporated layers
subject keywordsheat erosion
subject keywordslow-energy high-current pulsed electron beam irradiation
subject keywordsmelted layers
subject keywordsmicrostructure
subject keywordsnumerical model
subject keywordsoptical microscopy
subject keywordsspatio-temporal temperature fields
subject keywordsthermal effect parameters
subject keywordstitanium alloy structure
subject keywordsCooling
subject keywordsElectron beams
subject keywordsHeating
identifier doi10.1109/PLASMA.2014.7012752
journal titleuropean Wireless 2014; 20th European Wireless Conference; Proceedings of
filesize383245
citations0
contributor rawauthorPolydoros, Andreas , Fitz, Michael , Enserink, Scott , Thatte, Gautam , Halford, Thomas
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace