•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

A layered approach for testing timing in the model-based implementation

نویسنده:
BaekGyu Kim , Hwang, H.I. , Taejoon Park , Son, S.H. , Insup Lee
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/CICC.2014.6946102
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/985801
کلیدواژه(گان): CMOS integrated circuits,adaptive equalisers,analogue-digital conversion,blind equalisers,clock and data recovery circuits,decision feedback equalisers,interpolation,radio receivers,CDR,CMOS,DFE,adaptive CTLE,analog phase interpolator,blind ADC,clock and data recovery circuits,continuous time linear equalizer,decision feedback equalizers,digital data interpolation,phase tracking ADC,Backplanes,CMOS integrated circuits,Decision feedback equalizers,Interpolation,Least square
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    A layered approach for testing timing in the model-based implementation

Show full item record

date accessioned2020-03-12T19:40:33Z
date available2020-03-12T19:40:33Z
date issued2014
identifier other6800403.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/985801
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleA layered approach for testing timing in the model-based implementation
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8101499
subject keywordsCMOS integrated circuits
subject keywordsadaptive equalisers
subject keywordsanalogue-digital conversion
subject keywordsblind equalisers
subject keywordsclock and data recovery circuits
subject keywordsdecision feedback equalisers
subject keywordsinterpolation
subject keywordsradio receivers
subject keywordsCDR
subject keywordsCMOS
subject keywordsDFE
subject keywordsadaptive CTLE
subject keywordsanalog phase interpolator
subject keywordsblind ADC
subject keywordsclock and data recovery circuits
subject keywordscontinuous time linear equalizer
subject keywordsdecision feedback equalizers
subject keywordsdigital data interpolation
subject keywordsphase tracking ADC
subject keywordsBackplanes
subject keywordsCMOS integrated circuits
subject keywordsDecision feedback equalizers
subject keywordsInterpolation
subject keywordsLeast square
identifier doi10.1109/CICC.2014.6946102
journal titleesign, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE), 2014
filesize838981
citations0
contributor rawauthorBaekGyu Kim , Hwang, H.I. , Taejoon Park , Son, S.H. , Insup Lee
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace