•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Systematic study of RTN in nanowire transistor and enhanced RTN by hot carrier injection and negative bias temperature instability

نویسنده:
Ota, K. , Saitoh, M. , Tanaka, C. , Matsushita, D. , Numata, T.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/APCAP.2014.6992481
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1112960
کلیدواژه(گان): Antenna radiation patterns,Metals,Numerical models,Patch antennas,Stress,Thermal stresses,Co-simulation Methodology,Multi-physical Effects,Patch Antenna
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Systematic study of RTN in nanowire transistor and enhanced RTN by hot carrier injection and negative bias temperature instability

Show full item record

date accessioned2020-03-12T23:28:26Z
date available2020-03-12T23:28:26Z
date issued2014
identifier other6894417.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1112960
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleSystematic study of RTN in nanowire transistor and enhanced RTN by hot carrier injection and negative bias temperature instability
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8281946
subject keywordsAntenna radiation patterns
subject keywordsMetals
subject keywordsNumerical models
subject keywordsPatch antennas
subject keywordsStress
subject keywordsThermal stresses
subject keywordsCo-simulation Methodology
subject keywordsMulti-physical Effects
subject keywordsPatch Antenna
identifier doi10.1109/APCAP.2014.6992481
journal titleLSI Technology (VLSI-Technology): Digest of Technical Papers, 2014 Symposium on
filesize462833
citations0
contributor rawauthorOta, K. , Saitoh, M. , Tanaka, C. , Matsushita, D. , Numata, T.
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace