•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Rapid healing systems research on 110kv power system in shanghai

نویسنده:
Hui Wang
,
Haobin Yu
,
Junjun Zhang
,
Hongbo Lian
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/AM-FPD.2014.6867162
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1070505
کلیدواژه(گان): DNA,n electrochemical electrodes,n electron traps,n elemental semiconductors,n silicon,n silicon compounds,n transistors,n DNA channel gate structure,n DNA memory transistor,n Si,n SiO<,sub>,2<,/sub>,-Si,n charge retention,n conduction mechanism,n drain electrode,n electric field channel,n electron detrapping,n electron trapping,n guanine-base trapping,n majority hole carrier,n size 120 nm,n voltage 0.7 V,n Decision support s
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Rapid healing systems research on 110kv power system in shanghai

Show full item record

contributor authorHui Wang
contributor authorHaobin Yu
contributor authorJunjun Zhang
contributor authorHongbo Lian
date accessioned2020-03-12T22:04:41Z
date available2020-03-12T22:04:41Z
date issued2014
identifier other6991873.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1070505
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleRapid healing systems research on 110kv power system in shanghai
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8206567
subject keywordsDNA
subject keywordsn electrochemical electrodes
subject keywordsn electron traps
subject keywordsn elemental semiconductors
subject keywordsn silicon
subject keywordsn silicon compounds
subject keywordsn transistors
subject keywordsn DNA channel gate structure
subject keywordsn DNA memory transistor
subject keywordsn Si
subject keywordsn SiO<
subject keywordssub>
subject keywords2<
subject keywords/sub>
subject keywords-Si
subject keywordsn charge retention
subject keywordsn conduction mechanism
subject keywordsn drain electrode
subject keywordsn electric field channel
subject keywordsn electron detrapping
subject keywordsn electron trapping
subject keywordsn guanine-base trapping
subject keywordsn majority hole carrier
subject keywordsn size 120 nm
subject keywordsn voltage 0.7 V
subject keywordsn Decision support s
identifier doi10.1109/AM-FPD.2014.6867162
journal titlelectricity Distribution (CICED), 2014 China International Conference on
filesize469203
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace