•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Metal routing induced burn out in GGNMOS ESD protection for low-power DRAM application

نویسنده:
Minchen Chang
,
Tseng-Fu Lu
,
Wei-Chih Wang
,
Fan-Wen Liu
,
Jao-Hsiu Rao
,
Wei-Ming Liao
,
Chia-Ming Yang
,
Jeng-Ping Lin
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/WPT.2014.6839625
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1067249
کلیدواژه(گان): inductive power transmission,n magnetic fields,n commercial wireless inductive power transfer systems,n communication channel,n constant energy supply,n constant high coupling factor,n inductively coupled coils,n low frequency alternating magnetic field,n moving receivers,n operation radius,n power management,n power receiver,n power transmitter,n receiver coil,n receiver identification,n supercapacitor buffer,n transmitter coil,n Coils,n Cou
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Metal routing induced burn out in GGNMOS ESD protection for low-power DRAM application

Show full item record

contributor authorMinchen Chang
contributor authorTseng-Fu Lu
contributor authorWei-Chih Wang
contributor authorFan-Wen Liu
contributor authorJao-Hsiu Rao
contributor authorWei-Ming Liao
contributor authorChia-Ming Yang
contributor authorJeng-Ping Lin
date accessioned2020-03-12T21:58:52Z
date available2020-03-12T21:58:52Z
date issued2014
identifier other6968853.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1067249
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleMetal routing induced burn out in GGNMOS ESD protection for low-power DRAM application
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8201795
subject keywordsinductive power transmission
subject keywordsn magnetic fields
subject keywordsn commercial wireless inductive power transfer systems
subject keywordsn communication channel
subject keywordsn constant energy supply
subject keywordsn constant high coupling factor
subject keywordsn inductively coupled coils
subject keywordsn low frequency alternating magnetic field
subject keywordsn moving receivers
subject keywordsn operation radius
subject keywordsn power management
subject keywordsn power receiver
subject keywordsn power transmitter
subject keywordsn receiver coil
subject keywordsn receiver identification
subject keywordsn supercapacitor buffer
subject keywordsn transmitter coil
subject keywordsn Coils
subject keywordsn Cou
identifier doi10.1109/WPT.2014.6839625
journal titlelectrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2014 36th
filesize3102369
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace