•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Koch curve fractal antenna for Wi-MAX and C-Band wireless applications

نویسنده:
Sankaranarayanan, I.
,
Kumaran, A.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/ISQED.2014.6783362
یو آر آی: https://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1054668
کلیدواژه(گان): MOSFET,n ageing,n logic circuits,n performance evaluation,n semiconductor device reliability,n CET map,n FinFET technology,n NBTI aging-aware digital design flow,n STA,n adder,n advanced deeply scaled CMOS technology,n capture and emission time map,n datapath logic subblock analysis,n industry standard EDA tool chain,n multiplier,n mux-demux,n negative bias temperature instability phenomenon,n reliability,n shifter,n size 10 nm,n static
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Koch curve fractal antenna for Wi-MAX and C-Band wireless applications

Show full item record

contributor authorSankaranarayanan, I.
contributor authorKumaran, A.
date accessioned2020-03-12T21:37:02Z
date available2020-03-12T21:37:02Z
date issued2014
identifier other6949936.pdf
identifier urihttps://libsearch.um.ac.ir:443/fum/handle/fum/1054668
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleKoch curve fractal antenna for Wi-MAX and C-Band wireless applications
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8185320
subject keywordsMOSFET
subject keywordsn ageing
subject keywordsn logic circuits
subject keywordsn performance evaluation
subject keywordsn semiconductor device reliability
subject keywordsn CET map
subject keywordsn FinFET technology
subject keywordsn NBTI aging-aware digital design flow
subject keywordsn STA
subject keywordsn adder
subject keywordsn advanced deeply scaled CMOS technology
subject keywordsn capture and emission time map
subject keywordsn datapath logic subblock analysis
subject keywordsn industry standard EDA tool chain
subject keywordsn multiplier
subject keywordsn mux-demux
subject keywordsn negative bias temperature instability phenomenon
subject keywordsn reliability
subject keywordsn shifter
subject keywordsn size 10 nm
subject keywordsn static
identifier doi10.1109/ISQED.2014.6783362
journal titleommunications and Signal Processing (ICCSP), 2014 International Conference on
filesize1265399
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace