Search

Persian
- Persian
- English
ورود

دانشگاه فردوسی مشهد
|
مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی

- Persian
- English

خانه
انواع منابع
راهنمای استفاده

کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
Search

کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
Search

همه
عنوان
نویسنده
سال
ناشر
موضوع
عنوان ناشر
ISSN
شناسه الکترونیک
شابک

جستجوی پیشرفته

JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Search

Show Advanced Filters Hide Advanced Filters

Filters

Use filters to refine the search results.

نمایش تعداد 1-5 از 5

Relevance
Title Asc
Title Desc
سال صعودی
سال نزولی

5
10
20
40
60
80
100

CSV
RIS

Sort Options:
Relevance
Title Asc
Title Desc
Issue Date Asc
Issue Date Desc
Results Per Page:
5
10
20
40
60
80
100

A 12-bit 32MS/s SAR ADC using built-in self calibration technique to minimize capacitor mismatch

نوع: Conference Paper

نویسنده : In-Seok Jung; Yong-Bin Kim

ناشر: IEEE

سال: 2014

A 100MS/s 10-bit Split-SAR ADC with Capacitor Mismatch Compensation Using Built-In Calibration

نوع: Journal Paper

نویسنده : Yongsuk Choi; Yong-Bin Kim; In-Seok Jung

سال: 2016

A 10-bit 64MS/s SAR ADC using variable clock period method

نوع: Conference Paper

نویسنده : In-Seok Jung; Marvin Onabajo; Yong-Bin Kim

A built-in calibration system with a reduced FFT engine for linearity optimization of low power LNA

نوع: Conference Paper

نویسنده : Yongsuk Choi; Chun-hsiang Chang; In-Seok Jung; Onabajo, M.; Yong-Bin Kim

ناشر: IEEE

سال: 2014

Accurate and Efficient On-Chip Spectral Analysis for Built-In Testing and Calibration Approaches

نوع: Journal Paper

نویسنده : Chauhan, Himanshu; Yongsuk Choi; Onabajo, Marvin; In-Seok Jung; Yong-Bin Kim

ناشر: IEEE

سال: 2014

نویسنده

In-Seok Jung (5)

Yong-Bin Kim (5)

Yongsuk Choi (3)

Chauhan, Himanshu (1)

Chun-hsiang Chang (1)

Marvin Onabajo (1)

Onabajo, M. (1)

Onabajo, Marvin (1)

ناشر

IEEE (3)

سال

2016 (1)

2014 (3)

کلیدواژه

ADC resolution (1)

amp (1)

analog-to-digital converter (1)

analogue-digital conversion (1)

built-in self test (1)

calibration (1)

calibration approach (1)

CMOS integrated circuits (1)

CMOS technology (1)

coherent sampling (1)

نوع

Conference Paper (3)

Journal Paper (2)

زبان

English (5)

نوع محتوا

Metadata Only (3)

Fulltext (2)

عنوان ناشر

efect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2014 IEEE International Symposiu (2)

2016 IEEE 25th North Atlantic Test Workshop (NATW) (1)

Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on (1)

درباره ما

نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش

DSpace software copyright © 2019-2022 DuraSpace