Search

Persian
- Persian
- English
ورود

دانشگاه فردوسی مشهد
|
مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی

- Persian
- English

خانه
انواع منابع
راهنمای استفاده

کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
Search

کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
Search

همه
عنوان
نویسنده
سال
ناشر
موضوع
عنوان ناشر
ISSN
شناسه الکترونیک
شابک

جستجوی پیشرفته

JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Search

Show Advanced Filters Hide Advanced Filters

Filters

Use filters to refine the search results.

نمایش تعداد 1-5 از 5

Relevance
Title Asc
Title Desc
سال صعودی
سال نزولی

5
10
20
40
60
80
100

CSV
RIS

Sort Options:
Relevance
Title Asc
Title Desc
Issue Date Asc
Issue Date Desc
Results Per Page:
5
10
20
40
60
80
100

Input Test Data Volume Reduction for Skewed-Load Tests by Additional Shifting of Scan-In States

نوع: Journal Paper

نویسنده : Pomeranz, Irith

ناشر: IEEE

سال: 2014

Test Compaction by Sharing of Transparent-Scan Sequences Among Logic Blocks

نوع: Journal Paper

نویسنده : Pomeranz, Irith

ناشر: IEEE

سال: 2014

Emotional healthcare system: Emotion detection by facial expressions using Japanese database

نوع: Conference Paper

نویسنده : Tivatansakul, Somchanok; Ohkura, Michiko; Puangpontip, Supadchaya; Achalakul, Tiranee

ناشر: IEEE

سال: 2014

Scan-Based Testing of Post-Bond Silicon Interposer Interconnects in 2.5-D ICs

نوع: Journal Paper

نویسنده : Ran Wang; Chakrabarty, Krishnendu; Eklow, Bill

ناشر: IEEE

سال: 2014

Capture-Power-Safe Test Pattern Determination for At-Speed Scan-Based Testing

نوع: Journal Paper

نویسنده : Yi-Hua Li; Wei-Cheng Lien; Ing-Chao Lin; Kuen-Jong Lee

ناشر: IEEE

سال: 2014

نویسنده

Pomeranz, Irith (2)

Achalakul, Tiranee (1)

Chakrabarty, Krishnendu (1)

Eklow, Bill (1)

Ing-Chao Lin (1)

Kuen-Jong Lee (1)

Ohkura, Michiko (1)

Puangpontip, Supadchaya (1)

Ran Wang (1)

Tivatansakul, Somchanok (1)

ناشر

IEEE (5)

سال

2014 (5)

کلیدواژه

Clocks (3)

integrated circuit testing (3)

boundary scan testing (2)

Circuit faults (2)

fault diagnosis (2)

logic testing (2)

2.5-D ICs (1)

2.5-D integration (1)

89 benchmark circuits (1)

99 benchmark circuits (1)

نوع

Journal Paper (4)

Conference Paper (1)

زبان

English (5)

نوع محتوا

Metadata Only (5)

عنوان ناشر

Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on (3)

omputer Science and Electronic Engineering Conference (CEEC), 2014 6th (1)

Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on (1)

درباره ما

نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش

DSpace software copyright © 2019-2022 DuraSpace