•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Enabling Efficient Power Provisioning for Enterprise Applications

نویسنده:
Subramaniam, B. , Wu-Chun Feng
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/ICSICT.2014.7021382
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/998786
کلیدواژه(گان): aluminium,annealing,contact resistance,nickel,ohmic contacts,power MOSFET,ternary semiconductors,titanium,wide band gap semiconductors,Al,Ni,SiC,Ti,annealing condition,metal oxide semiconductor field effect transistor,n-source region,ohmic contact,p-well region,silicon carbide power MOSFET fabrication process,simultaneous formation process,specific contact resistance,ternary system,Abstracts,Annealing,Chemicals,Nickel
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Enabling Efficient Power Provisioning for Enterprise Applications

Show full item record

contributor authorSubramaniam, B. , Wu-Chun Feng
date accessioned2020-03-12T20:01:11Z
date available2020-03-12T20:01:11Z
date issued2014
identifier other6846442.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/998786?locale-attribute=fa
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleEnabling Efficient Power Provisioning for Enterprise Applications
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8119027
subject keywordsaluminium
subject keywordsannealing
subject keywordscontact resistance
subject keywordsnickel
subject keywordsohmic contacts
subject keywordspower MOSFET
subject keywordsternary semiconductors
subject keywordstitanium
subject keywordswide band gap semiconductors
subject keywordsAl
subject keywordsNi
subject keywordsSiC
subject keywordsTi
subject keywordsannealing condition
subject keywordsmetal oxide semiconductor field effect transistor
subject keywordsn-source region
subject keywordsohmic contact
subject keywordsp-well region
subject keywordssilicon carbide power MOSFET fabrication process
subject keywordssimultaneous formation process
subject keywordsspecific contact resistance
subject keywordsternary system
subject keywordsAbstracts
subject keywordsAnnealing
subject keywordsChemicals
subject keywordsNickel
identifier doi10.1109/ICSICT.2014.7021382
journal titleluster, Cloud and Grid Computing (CCGrid), 2014 14th IEEE/ACM International Symposium on
filesize362490
citations1
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace