•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Motion Planning of Multi-docking System for Intelligent Mobile Robots

نویسنده:
Su, K.L. , Li, B.Y. , Guo, J.H. , Liao, Y.L.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/ICSICT.2014.7021291
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/998698
کلیدواژه(گان): MOSFET,interface states,semiconductor device models,semiconductor device reliability,BTI stresses,IV measurement,Si-SiO<,sub>,2<,/sub>,interface trap density,n-type interfaces,p-type interfaces,Abstracts,Area measurement,Current measurement,Logic gates,Performance evaluation,Reliability,Substrates
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Motion Planning of Multi-docking System for Intelligent Mobile Robots

Show full item record

contributor authorSu, K.L. , Li, B.Y. , Guo, J.H. , Liao, Y.L.
date accessioned2020-03-12T20:01:02Z
date available2020-03-12T20:01:02Z
date issued2014
identifier other6846122.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/998698?locale-attribute=fa
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleMotion Planning of Multi-docking System for Intelligent Mobile Robots
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8118926
subject keywordsMOSFET
subject keywordsinterface states
subject keywordssemiconductor device models
subject keywordssemiconductor device reliability
subject keywordsBTI stresses
subject keywordsIV measurement
subject keywordsSi-SiO<
subject keywordssub>
subject keywords2<
subject keywords/sub>
subject keywordsinterface trap density
subject keywordsn-type interfaces
subject keywordsp-type interfaces
subject keywordsAbstracts
subject keywordsArea measurement
subject keywordsCurrent measurement
subject keywordsLogic gates
subject keywordsPerformance evaluation
subject keywordsReliability
subject keywordsSubstrates
identifier doi10.1109/ICSICT.2014.7021291
journal titleomputer, Consumer and Control (IS3C), 2014 International Symposium on
filesize278806
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace