•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

A built-in gain calibration technique for RF low-noise amplifiers

نویسنده:
Ya-Ru Wu , Yi-Keng Hsieh , Po-Chih Ku , Liang-Hung Lu
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/AUPEC.2014.6966636
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/989708
کلیدواژه(گان): Australia,Educational institutions,Optimization,Power system dynamics,Stochastic processes,Wind farms,Wind power generation,dynamic line ratings,risk of congestion,wind power generation
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    A built-in gain calibration technique for RF low-noise amplifiers

Show full item record

date accessioned2020-03-12T19:46:38Z
date available2020-03-12T19:46:38Z
date issued2014
identifier other6818776.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/989708
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleA built-in gain calibration technique for RF low-noise amplifiers
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8105971
subject keywordsAustralia
subject keywordsEducational institutions
subject keywordsOptimization
subject keywordsPower system dynamics
subject keywordsStochastic processes
subject keywordsWind farms
subject keywordsWind power generation
subject keywordsdynamic line ratings
subject keywordsrisk of congestion
subject keywordswind power generation
identifier doi10.1109/AUPEC.2014.6966636
journal titleLSI Test Symposium (VTS), 2014 IEEE 32nd
filesize796818
citations0
contributor rawauthorYa-Ru Wu , Yi-Keng Hsieh , Po-Chih Ku , Liang-Hung Lu
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace