•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Increase in Read Noise Margin of Single-Bit-Line SRAM Using Adiabatic Change of Word Line Voltage

نویسنده:
Nakata, Sho
,
Hanazono, Hiroki
,
Makino, Hiroaki
,
Morimura, Hiroki
,
Miyama, Masayuki
,
Matsuda, Yuuki
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/TVLSI.2013.2247642
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/956349
کلیدواژه(گان): SRAM chips,circuit noise,flip-flops,low-power electronics,BL capacitance,DNM,adiabatic change,dynamic noise margin,flip-flop,left access transistor,read noise margin,shared reading port,single-bit-line SRAM circuit,static RAM circuit,time-wise change,word line voltage,Adiabatic,low power,read noise margin (RNM)
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Increase in Read Noise Margin of Single-Bit-Line SRAM Using Adiabatic Change of Word Line Voltage

Show full item record

contributor authorNakata, Sho
contributor authorHanazono, Hiroki
contributor authorMakino, Hiroaki
contributor authorMorimura, Hiroki
contributor authorMiyama, Masayuki
contributor authorMatsuda, Yuuki
date accessioned2020-03-12T18:22:32Z
date available2020-03-12T18:22:32Z
date issued2014
identifier issn1063-8210
identifier other6490418.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/956349
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleIncrease in Read Noise Margin of Single-Bit-Line SRAM Using Adiabatic Change of Word Line Voltage
typeJournal Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid7988357
subject keywordsSRAM chips
subject keywordscircuit noise
subject keywordsflip-flops
subject keywordslow-power electronics
subject keywordsBL capacitance
subject keywordsDNM
subject keywordsadiabatic change
subject keywordsdynamic noise margin
subject keywordsflip-flop
subject keywordsleft access transistor
subject keywordsread noise margin
subject keywordsshared reading port
subject keywordssingle-bit-line SRAM circuit
subject keywordsstatic RAM circuit
subject keywordstime-wise change
subject keywordsword line voltage
subject keywordsAdiabatic
subject keywordslow power
subject keywordsread noise margin (RNM)
identifier doi10.1109/TVLSI.2013.2247642
journal titleVery Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on
journal volume22
journal issue3
filesize1713490
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace