•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Considerations in the design of a boundary scan runtime library

نویسنده:
Borroz, Terry
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/MIM.2014.6873728
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1141390
کلیدواژه(گان): boundary scan testing,integrated circuit design,integrated circuit testing,wires (electric),IC testing,IEEE Standard 1149.1 - 2001,JTAG,Joint Test Action Group,boundary scan runtime library design,data communication,data register,data transfer,digital signal,serial data transmission,single board-level TAP,test access port,wire,Boundary conditions,Data transmission,IEEE Standard 1149.1,Programming,Runtime library,Standards
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Considerations in the design of a boundary scan runtime library

Show full item record

contributor authorBorroz, Terry
date accessioned2020-03-13T00:17:38Z
date available2020-03-13T00:17:38Z
date issued2014
identifier issn1094-6969
identifier other6873728.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1141390
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleConsiderations in the design of a boundary scan runtime library
typeJournal Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8323827
subject keywordsboundary scan testing
subject keywordsintegrated circuit design
subject keywordsintegrated circuit testing
subject keywordswires (electric)
subject keywordsIC testing
subject keywordsIEEE Standard 1149.1 - 2001
subject keywordsJTAG
subject keywordsJoint Test Action Group
subject keywordsboundary scan runtime library design
subject keywordsdata communication
subject keywordsdata register
subject keywordsdata transfer
subject keywordsdigital signal
subject keywordsserial data transmission
subject keywordssingle board-level TAP
subject keywordstest access port
subject keywordswire
subject keywordsBoundary conditions
subject keywordsData transmission
subject keywordsIEEE Standard 1149.1
subject keywordsProgramming
subject keywordsRuntime library
subject keywordsStandards
identifier doi10.1109/MIM.2014.6873728
journal titleInstrumentation & Measurement Magazine, IEEE
journal volume17
journal issue4
filesize354988
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace