•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Energy Barrier Model of SRAM for Improved Energy and Error Rates

نویسنده:
Das, Joydeep
,
Ghosh, Sudip
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/TCSI.2014.2333356
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1139112
کلیدواژه(گان): SRAM chips,cache storage,error statistics,SRAM cache,SRAM stability,energy barrier model,intrinsic energy margin induced write failure,memory error rates,memory failures,static random access memory,Energy barrier,Error analysis,Integrated circuit modeling,Mathematical model,Noise,Random access memory,Stability analysis,Assist circuits,SRAM,SRAM error optimization,energy barrier model,energy optimization
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Energy Barrier Model of SRAM for Improved Energy and Error Rates

Show full item record

contributor authorDas, Joydeep
contributor authorGhosh, Sudip
date accessioned2020-03-13T00:13:58Z
date available2020-03-13T00:13:58Z
date issued2014
identifier issn1549-8328
identifier other6856229.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1139112
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleEnergy Barrier Model of SRAM for Improved Energy and Error Rates
typeJournal Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8321299
subject keywordsSRAM chips
subject keywordscache storage
subject keywordserror statistics
subject keywordsSRAM cache
subject keywordsSRAM stability
subject keywordsenergy barrier model
subject keywordsintrinsic energy margin induced write failure
subject keywordsmemory error rates
subject keywordsmemory failures
subject keywordsstatic random access memory
subject keywordsEnergy barrier
subject keywordsError analysis
subject keywordsIntegrated circuit modeling
subject keywordsMathematical model
subject keywordsNoise
subject keywordsRandom access memory
subject keywordsStability analysis
subject keywordsAssist circuits
subject keywordsSRAM
subject keywordsSRAM error optimization
subject keywordsenergy barrier model
subject keywordsenergy optimization
identifier doi10.1109/TCSI.2014.2333356
journal titleCircuits and Systems I: Regular Papers, IEEE Transactions on
journal volume61
journal issue8
filesize2201192
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace