•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Measurement of the Intrinsic Parameters of Single-Mode VCSELs

نویسنده:
Perez, Pablo
,
Valle, Angel
,
Noriega, Ignacio
,
Pesquera, Luis
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/JLT.2014.2308303
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1124065
کلیدواژه(گان): carrier lifetime,laser cavity resonators,laser modes,laser noise,laser variables measurement,semiconductor lasers,surface emitting lasers,Intensity noise spectrum analysis,bias current,differential carrier lifetime,high resolution CW optical spectrum measurements,intrinsic parameter measurement,laser linewidth,laser power,long-wavelength vertical-cavity surface-emitting laser,parameter extraction,semiconductor laser rate equations,single-transverse mode VCSEL,wavelength 1550 nm
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Measurement of the Intrinsic Parameters of Single-Mode VCSELs

Show full item record

contributor authorPerez, Pablo
contributor authorValle, Angel
contributor authorNoriega, Ignacio
contributor authorPesquera, Luis
date accessioned2020-03-12T23:48:29Z
date available2020-03-12T23:48:29Z
date issued2014
identifier issn0733-8724
identifier other6747990.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1124065?locale-attribute=fa
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleMeasurement of the Intrinsic Parameters of Single-Mode VCSELs
typeJournal Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8303581
subject keywordscarrier lifetime
subject keywordslaser cavity resonators
subject keywordslaser modes
subject keywordslaser noise
subject keywordslaser variables measurement
subject keywordssemiconductor lasers
subject keywordssurface emitting lasers
subject keywordsIntensity noise spectrum analysis
subject keywordsbias current
subject keywordsdifferential carrier lifetime
subject keywordshigh resolution CW optical spectrum measurements
subject keywordsintrinsic parameter measurement
subject keywordslaser linewidth
subject keywordslaser power
subject keywordslong-wavelength vertical-cavity surface-emitting laser
subject keywordsparameter extraction
subject keywordssemiconductor laser rate equations
subject keywordssingle-transverse mode VCSEL
subject keywordswavelength 1550 nm
identifier doi10.1109/JLT.2014.2308303
journal titleLightwave Technology, Journal of
journal volume32
journal issue8
filesize416239
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace