•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Instantaneous pitch estimation based on empirical wavelet transform

نویسنده:
Yusheng Li , Biao Xue , Hong Hong , Xiaohua Zhu
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/PVSC.2014.6924893
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1117441
کلیدواژه(گان): X-ray diffraction,carrier density,copper compounds,indium compounds,scanning electron microscopy,semiconductor growth,semiconductor thin films,solar cells,vacuum deposition,3-stage-co-evaporation process,CuInSe<,sub>,2<,/sub>,Na,NaF-PDT,X-ray diffraction reflex,absorber growth process,capacitance-voltage measurements,charge carrier concentration,grain sizes,growth temperature,open-circuit voltage,preparation temperatures,scanning electron microscopy,solar cell perf
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Instantaneous pitch estimation based on empirical wavelet transform

Show full item record

contributor authorYusheng Li , Biao Xue , Hong Hong , Xiaohua Zhu
date accessioned2020-03-12T23:35:59Z
date available2020-03-12T23:35:59Z
date issued2014
identifier other6900838.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1117441
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleInstantaneous pitch estimation based on empirical wavelet transform
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8287199
subject keywordsX-ray diffraction
subject keywordscarrier density
subject keywordscopper compounds
subject keywordsindium compounds
subject keywordsscanning electron microscopy
subject keywordssemiconductor growth
subject keywordssemiconductor thin films
subject keywordssolar cells
subject keywordsvacuum deposition
subject keywords3-stage-co-evaporation process
subject keywordsCuInSe<
subject keywordssub>
subject keywords2<
subject keywords/sub>
subject keywordsNa
subject keywordsNaF-PDT
subject keywordsX-ray diffraction reflex
subject keywordsabsorber growth process
subject keywordscapacitance-voltage measurements
subject keywordscharge carrier concentration
subject keywordsgrain sizes
subject keywordsgrowth temperature
subject keywordsopen-circuit voltage
subject keywordspreparation temperatures
subject keywordsscanning electron microscopy
subject keywordssolar cell perf
identifier doi10.1109/PVSC.2014.6924893
journal titleigital Signal Processing (DSP), 2014 19th International Conference on
filesize383206
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace