•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

A nonparallel hexrotor UAV with faster response to disturbances for precision position keeping

نویسنده:
Guangying Jiang
,
Voyles, R.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/IPFA.2014.6898129
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1089597
کلیدواژه(گان): focused ion beam technology,n semiconductor technology,n transmission electron microscopy,n advanced semiconductor device analysis,n curtaining effect,n ex situ lift out,n inverted FIB thinning,n inverted sample thinning method,n ultrathin TEM specimens,n Copper,n Films,n Geometry,n Ion beams,n Needles,n Probes,n Silicon
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    A nonparallel hexrotor UAV with faster response to disturbances for precision position keeping

Show full item record

contributor authorGuangying Jiang
contributor authorVoyles, R.
date accessioned2020-03-12T22:38:22Z
date available2020-03-12T22:38:22Z
date issued2014
identifier other7017669.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1089597?locale-attribute=fa
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleA nonparallel hexrotor UAV with faster response to disturbances for precision position keeping
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8227844
subject keywordsfocused ion beam technology
subject keywordsn semiconductor technology
subject keywordsn transmission electron microscopy
subject keywordsn advanced semiconductor device analysis
subject keywordsn curtaining effect
subject keywordsn ex situ lift out
subject keywordsn inverted FIB thinning
subject keywordsn inverted sample thinning method
subject keywordsn ultrathin TEM specimens
subject keywordsn Copper
subject keywordsn Films
subject keywordsn Geometry
subject keywordsn Ion beams
subject keywordsn Needles
subject keywordsn Probes
subject keywordsn Silicon
identifier doi10.1109/IPFA.2014.6898129
journal titleafety, Security, and Rescue Robotics (SSRR), 2014 IEEE International Symposium on
filesize1090603
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace