•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

[Copyright notice]

ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/ICEP.2014.6826673
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1063060
کلیدواژه(گان): boundary scan testing,n integrated circuit bonding,n probes,n three-dimensional integrated circuits,n 3D SIC,n IEEE1149.4,n Kelvin probe,n SPICE simulation,n analog boundary-scan,n bond resistance,n electrical probes,n high density post-bond TSV,n resistance measuring method,n serial microbumps,n Current measurement,n Electrical resistance measurement,n Measurement uncertainty,n Pollution measurement,n Resistance,n Through-silicon vias
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    [Copyright notice]

Show full item record

date accessioned2020-03-12T21:51:36Z
date available2020-03-12T21:51:36Z
date issued2014
identifier other6961804.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1063060
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
title[Copyright notice]
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8195144
subject keywordsboundary scan testing
subject keywordsn integrated circuit bonding
subject keywordsn probes
subject keywordsn three-dimensional integrated circuits
subject keywordsn 3D SIC
subject keywordsn IEEE1149.4
subject keywordsn Kelvin probe
subject keywordsn SPICE simulation
subject keywordsn analog boundary-scan
subject keywordsn bond resistance
subject keywordsn electrical probes
subject keywordsn high density post-bond TSV
subject keywordsn resistance measuring method
subject keywordsn serial microbumps
subject keywordsn Current measurement
subject keywordsn Electrical resistance measurement
subject keywordsn Measurement uncertainty
subject keywordsn Pollution measurement
subject keywordsn Resistance
subject keywordsn Through-silicon vias
identifier doi10.1109/ICEP.2014.6826673
journal titlenformative and Cybernetics for Computational Social Systems (ICCSS), 2014 International Conference o
filesize94204
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace