•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

HISUI vicarious calibration and CAL/VAL activities

نویسنده:
Yamamoto, H.
,
Obata, K.
,
Kouyama, T.
,
Tsuchida, S.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/MEMSYS.2014.6765711
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1052587
کلیدواژه(گان): failure analysis,n microswitches,n reliability,n springs (mechanical),n time measurement,n MEMS switch reliability,n automatic reliability detection system,n automatic reliability prediction system,n continuous dynamic timing measurements,n device failure identification,n ohmic MEMS switches,n spring forces,n surface forces,n Contacts,n Micromechanical devices,n Microswitches,n Monitoring,n Reliability,n Springs
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    HISUI vicarious calibration and CAL/VAL activities

Show full item record

contributor authorYamamoto, H.
contributor authorObata, K.
contributor authorKouyama, T.
contributor authorTsuchida, S.
date accessioned2020-03-12T21:33:12Z
date available2020-03-12T21:33:12Z
date issued2014
identifier other6947001.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1052587
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleHISUI vicarious calibration and CAL/VAL activities
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8182808
subject keywordsfailure analysis
subject keywordsn microswitches
subject keywordsn reliability
subject keywordsn springs (mechanical)
subject keywordsn time measurement
subject keywordsn MEMS switch reliability
subject keywordsn automatic reliability detection system
subject keywordsn automatic reliability prediction system
subject keywordsn continuous dynamic timing measurements
subject keywordsn device failure identification
subject keywordsn ohmic MEMS switches
subject keywordsn spring forces
subject keywordsn surface forces
subject keywordsn Contacts
subject keywordsn Micromechanical devices
subject keywordsn Microswitches
subject keywordsn Monitoring
subject keywordsn Reliability
subject keywordsn Springs
identifier doi10.1109/MEMSYS.2014.6765711
journal titleeoscience and Remote Sensing Symposium (IGARSS), 2014 IEEE International
filesize458996
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace