•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Systematic reliability characterizations on Average Output Voltage (AVO) shift of Display Driver IC by HTOL

نویسنده:
Jungdong Kim , Donghun Kim , Minhyeok Choe , Kidan Bae , Sangchul Shin , Sangwoo Pae , Jongwoo Park
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/ICLP.2014.6973326
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1008291
کلیدواژه(گان): Ash,Cameras,Clouds,Corona,Joining processes,Lightning,Radar,attachment process,bolt-from-the-blue,corona,high-speed camera,lightning,space stem
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Systematic reliability characterizations on Average Output Voltage (AVO) shift of Display Driver IC by HTOL

Show full item record

date accessioned2020-03-12T20:16:14Z
date available2020-03-12T20:16:14Z
date issued2014
identifier other6860618.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1008291?locale-attribute=fa
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleSystematic reliability characterizations on Average Output Voltage (AVO) shift of Display Driver IC by HTOL
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8130119
subject keywordsAsh
subject keywordsCameras
subject keywordsClouds
subject keywordsCorona
subject keywordsJoining processes
subject keywordsLightning
subject keywordsRadar
subject keywordsattachment process
subject keywordsbolt-from-the-blue
subject keywordscorona
subject keywordshigh-speed camera
subject keywordslightning
subject keywordsspace stem
identifier doi10.1109/ICLP.2014.6973326
journal titleeliability Physics Symposium, 2014 IEEE International
filesize342307
citations0
contributor rawauthorJungdong Kim , Donghun Kim , Minhyeok Choe , Kidan Bae , Sangchul Shin , Sangwoo Pae , Jongwoo Park
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace