•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Identification of testable representative paths for low-cost verification of circuit performance during manufacturing and in-field tests

نویسنده:
Jifeng Chen , Winemberg, L. , Tehranipoor, M.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/AUPEC.2014.6966642
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/989716
کلیدواژه(گان): Batteries,Discharges (electric),Educational institutions,Inverters,Load flow,Load modeling,Voltage control,Battery energy storage system,Load levelling,PV generation,Peak shaving,Voltage rise
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Identification of testable representative paths for low-cost verification of circuit performance during manufacturing and in-field tests

Show full item record

contributor authorJifeng Chen , Winemberg, L. , Tehranipoor, M.
date accessioned2020-03-12T19:46:39Z
date available2020-03-12T19:46:39Z
date issued2014
identifier other6818782.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/989716
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleIdentification of testable representative paths for low-cost verification of circuit performance during manufacturing and in-field tests
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8105979
subject keywordsBatteries
subject keywordsDischarges (electric)
subject keywordsEducational institutions
subject keywordsInverters
subject keywordsLoad flow
subject keywordsLoad modeling
subject keywordsVoltage control
subject keywordsBattery energy storage system
subject keywordsLoad levelling
subject keywordsPV generation
subject keywordsPeak shaving
subject keywordsVoltage rise
identifier doi10.1109/AUPEC.2014.6966642
journal titleLSI Test Symposium (VTS), 2014 IEEE 32nd
filesize1472594
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace