•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

An Architecture Framework for Porting Applications to FPGAs

نویسنده:
Nowak, Fabian , Bromberger, Michael , Karl, Wolfgang
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/URSIGASS.2014.6929430
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/982062
کلیدواژه(گان): electric noise measurement,electromagnetic interference,integrated circuit noise,silicon,EMI noise,Si,functional failure,integrated circuits,maximum operation frequency,off-chip electromagnetic interferences,on-chip EMI monitoring system,on-chip electromagnetic interferences,peak power supply drop,power supply fluctuation,silicon data,size 55 nm,Electromagnetic Interference (EMI),IC Power Supply Noise,On-Chip Monitoring,On-Chip Sensor
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    An Architecture Framework for Porting Applications to FPGAs

Show full item record

date accessioned2020-03-12T19:34:03Z
date available2020-03-12T19:34:03Z
date issued2014
identifier other6775087.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/982062
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleAn Architecture Framework for Porting Applications to FPGAs
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8096900
subject keywordselectric noise measurement
subject keywordselectromagnetic interference
subject keywordsintegrated circuit noise
subject keywordssilicon
subject keywordsEMI noise
subject keywordsSi
subject keywordsfunctional failure
subject keywordsintegrated circuits
subject keywordsmaximum operation frequency
subject keywordsoff-chip electromagnetic interferences
subject keywordson-chip EMI monitoring system
subject keywordson-chip electromagnetic interferences
subject keywordspeak power supply drop
subject keywordspower supply fluctuation
subject keywordssilicon data
subject keywordssize 55 nm
subject keywordsElectromagnetic Interference (EMI)
subject keywordsIC Power Supply Noise
subject keywordsOn-Chip Monitoring
subject keywordsOn-Chip Sensor
identifier doi10.1109/URSIGASS.2014.6929430
journal titlerchitecture of Computing Systems (ARCS), 2014 27th International Conference on
filesize266390
citations1
contributor rawauthorNowak, Fabian , Bromberger, Michael , Karl, Wolfgang
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace