•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Simultaneous process self-calibration method using TDC for 3D DDR4 DRAM

نویسنده:
Reum Oh
,
Jang, Jin
,
Kim, Jung-Ho
,
Man Young Sung
ناشر:
IET
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1049/el.2014.1595
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1147458
کلیدواژه(گان): DRAM chips,integrated circuit design,low-power electronics,three-dimensional integrated circuits,time-digital conversion,3D DDR4 DRAM,3D double data rate 4 DRAM,TDC,TSV,high density memory,low power electronics,self-calibration method,slowest signal detection,three dimensional dynamic random access memory,time-to-digital converter,voltage 1.2 V
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Simultaneous process self-calibration method using TDC for 3D DDR4 DRAM

Show full item record

contributor authorReum Oh
contributor authorJang, Jin
contributor authorKim, Jung-Ho
contributor authorMan Young Sung
date accessioned2020-03-13T00:27:27Z
date available2020-03-13T00:27:27Z
date issued2014
identifier issn0013-5194
identifier other6937288.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1147458
formatgeneral
languageEnglish
publisherIET
titleSimultaneous process self-calibration method using TDC for 3D DDR4 DRAM
typeJournal Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8330417
subject keywordsDRAM chips
subject keywordsintegrated circuit design
subject keywordslow-power electronics
subject keywordsthree-dimensional integrated circuits
subject keywordstime-digital conversion
subject keywords3D DDR4 DRAM
subject keywords3D double data rate 4 DRAM
subject keywordsTDC
subject keywordsTSV
subject keywordshigh density memory
subject keywordslow power electronics
subject keywordsself-calibration method
subject keywordsslowest signal detection
subject keywordsthree dimensional dynamic random access memory
subject keywordstime-to-digital converter
subject keywordsvoltage 1.2 V
identifier doi10.1049/el.2014.1595
journal titleElectronics Letters
journal volume50
journal issue22
filesize302103
citations1
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace