•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Modeling for reliability of ultra thin chips in a system in package

نویسنده:
Qian, R. , Yong Liu
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/SRDS.2014.62
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1115400
کلیدواژه(گان): Computer hacking,Encoding,Hardware,Redundancy,Registers,Safety,Arithmetic Codes,Encoded Processing,Fault-tolerance,SIHFT
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Modeling for reliability of ultra thin chips in a system in package

Show full item record

contributor authorQian, R. , Yong Liu
date accessioned2020-03-12T23:32:34Z
date available2020-03-12T23:32:34Z
date issued2014
identifier other6897586.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1115400
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleModeling for reliability of ultra thin chips in a system in package
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8284838
subject keywordsComputer hacking
subject keywordsEncoding
subject keywordsHardware
subject keywordsRedundancy
subject keywordsRegisters
subject keywordsSafety
subject keywordsArithmetic Codes
subject keywordsEncoded Processing
subject keywordsFault-tolerance
subject keywordsSIHFT
identifier doi10.1109/SRDS.2014.62
journal titlelectronic Components and Technology Conference (ECTC), 2014 IEEE 64th
filesize2500201
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace