•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Bias stress induced threshold voltage instability in solution processed organic thin film transistor

نویسنده:
Yin Sun
,
Lining Zhang
,
Ahmed, Z.
,
Kabir, D.
,
Mansun Chan
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/IV.2014.24
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1093003
کلیدواژه(گان): computational complexity,n data visualisation,n graph theory,n pattern clustering,n LC,n SC1,n SC2,n clustered force-directed algorithm,n clustered graph drawing,n computational complexity,n convergence time,n graph visualization aesthetics,n large graph visualization,n large weighted graphs,n long convergence,n scalability problem,n short convergences,n Clustering algorithms,n Clustering methods,n Convergence,n Data visualization
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Bias stress induced threshold voltage instability in solution processed organic thin film transistor

Show full item record

contributor authorYin Sun
contributor authorLining Zhang
contributor authorAhmed, Z.
contributor authorKabir, D.
contributor authorMansun Chan
date accessioned2020-03-12T22:44:34Z
date available2020-03-12T22:44:34Z
date issued2014
identifier other7021646.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1093003
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleBias stress induced threshold voltage instability in solution processed organic thin film transistor
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8232289
subject keywordscomputational complexity
subject keywordsn data visualisation
subject keywordsn graph theory
subject keywordsn pattern clustering
subject keywordsn LC
subject keywordsn SC1
subject keywordsn SC2
subject keywordsn clustered force-directed algorithm
subject keywordsn clustered graph drawing
subject keywordsn computational complexity
subject keywordsn convergence time
subject keywordsn graph visualization aesthetics
subject keywordsn large graph visualization
subject keywordsn large weighted graphs
subject keywordsn long convergence
subject keywordsn scalability problem
subject keywordsn short convergences
subject keywordsn Clustering algorithms
subject keywordsn Clustering methods
subject keywordsn Convergence
subject keywordsn Data visualization
identifier doi10.1109/IV.2014.24
journal titleolid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2014 12th IEEE International Conference on
filesize708987
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace