•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

[Front cover]

ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/ECTC.2014.6897295
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1089231
کلیدواژه(گان): Fourier transform spectroscopy,n X-ray microscopy,n X-ray photoelectron spectra,n ageing,n automotive electronics,n encapsulation,n failure analysis,n gold,n infrared spectroscopy,n integrated circuit packaging,n integrated circuit reliability,n integrated circuit testing,n leakage currents,n moulding,n plastic packaging,n Au,n DMA,n EMC,n FTIR,n MC candidates,n PEM,n Pd-Al,n SOIC devices,n X-ray inspection,n XPS tests
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    [Front cover]

Show full item record

date accessioned2020-03-12T22:37:41Z
date available2020-03-12T22:37:41Z
date issued2014
identifier other7017146.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1089231
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
title[Front cover]
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8227408
subject keywordsFourier transform spectroscopy
subject keywordsn X-ray microscopy
subject keywordsn X-ray photoelectron spectra
subject keywordsn ageing
subject keywordsn automotive electronics
subject keywordsn encapsulation
subject keywordsn failure analysis
subject keywordsn gold
subject keywordsn infrared spectroscopy
subject keywordsn integrated circuit packaging
subject keywordsn integrated circuit reliability
subject keywordsn integrated circuit testing
subject keywordsn leakage currents
subject keywordsn moulding
subject keywordsn plastic packaging
subject keywordsn Au
subject keywordsn DMA
subject keywordsn EMC
subject keywordsn FTIR
subject keywordsn MC candidates
subject keywordsn PEM
subject keywordsn Pd-Al
subject keywordsn SOIC devices
subject keywordsn X-ray inspection
subject keywordsn XPS tests
identifier doi10.1109/ECTC.2014.6897295
journal titlenderwater Communications and Networking (UComms), 2014
filesize65167
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace