•  Persian
    • Persian
    • English
  •   ورود
  • دانشگاه فردوسی مشهد
  • |
  • مرکز اطلاع‌رسانی و کتابخانه مرکزی
    • Persian
    • English
  • خانه
  • انواع منابع
    • مقاله مجله
    • کتاب الکترونیکی
    • مقاله همایش
    • استاندارد
    • پروتکل
    • پایان‌نامه
  • راهنمای استفاده
View Item 
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  •   کتابخانه دیجیتال دانشگاه فردوسی مشهد
  • Fum
  • Articles
  • Latin Articles
  • View Item
  • همه
  • عنوان
  • نویسنده
  • سال
  • ناشر
  • موضوع
  • عنوان ناشر
  • ISSN
  • شناسه الکترونیک
  • شابک
جستجوی پیشرفته
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Hand based multibiometric authentication using local feature extraction

نویسنده:
Bhaskar, Bhagya
,
Veluchamy, S.
ناشر:
IEEE
سال
: 2014
شناسه الکترونیک: 10.1109/MIXDES.2014.6872236
یو آر آی: http://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1073610
کلیدواژه(گان): CMOS integrated circuits,n error detection,n integrated circuit reliability,n matrix algebra,n probability,n CED circuit analysis,n arithmetic circuits,n checker mechanisms,n concurrent error detection scheme,n deep submicron CMOS devices,n multiple faults,n probabilistic transfer matrices,n reliability issues,n Circuit faults,n Integrated circuit modeling,n Integrated circuit reliability,n Logic gates,n Mathematical model,n Probabilistic log
کالکشن :
  • Latin Articles
  • نمایش متادیتا پنهان کردن متادیتا
  • آمار بازدید

    Hand based multibiometric authentication using local feature extraction

Show full item record

contributor authorBhaskar, Bhagya
contributor authorVeluchamy, S.
date accessioned2020-03-12T22:09:41Z
date available2020-03-12T22:09:41Z
date issued2014
identifier other6996136.pdf
identifier urihttp://libsearch.um.ac.ir:80/fum/handle/fum/1073610
formatgeneral
languageEnglish
publisherIEEE
titleHand based multibiometric authentication using local feature extraction
typeConference Paper
contenttypeMetadata Only
identifier padid8209733
subject keywordsCMOS integrated circuits
subject keywordsn error detection
subject keywordsn integrated circuit reliability
subject keywordsn matrix algebra
subject keywordsn probability
subject keywordsn CED circuit analysis
subject keywordsn arithmetic circuits
subject keywordsn checker mechanisms
subject keywordsn concurrent error detection scheme
subject keywordsn deep submicron CMOS devices
subject keywordsn multiple faults
subject keywordsn probabilistic transfer matrices
subject keywordsn reliability issues
subject keywordsn Circuit faults
subject keywordsn Integrated circuit modeling
subject keywordsn Integrated circuit reliability
subject keywordsn Logic gates
subject keywordsn Mathematical model
subject keywordsn Probabilistic log
identifier doi10.1109/MIXDES.2014.6872236
journal titleecent Trends in Information Technology (ICRTIT), 2014 International Conference on
filesize389943
citations0
  • درباره ما
نرم افزار کتابخانه دیجیتال "دی اسپیس" فارسی شده توسط یابش برای کتابخانه های ایرانی | تماس با یابش
DSpace software copyright © 2019-2022  DuraSpace